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測(cè)量主回路的電阻，可以檢查主回路中的聯(lián)結(jié)和觸頭接觸情況，應(yīng)采用直流壓降法測(cè)量，測(cè)試電流不小于100A。若GIS有進(jìn)出線套管，可利用進(jìn)出線套管注入測(cè)量電流進(jìn)行測(cè)量

2017-09-14 00:00:00 · 電工之家 閱讀：282
測(cè)量主回路的電阻，可以檢查主回路中的聯(lián)結(jié)和觸頭接觸情況，應(yīng)采用直流壓降法測(cè)量，測(cè)試電流不小于100A。若GIS有進(jìn)出線套管，可利用進(jìn)出線套管注入測(cè)量電流進(jìn)行測(cè)量

測(cè)量主回路的電阻，可以檢查主回路中的聯(lián)結(jié)和觸頭接觸情況，應(yīng)采用直流壓降法測(cè)量，測(cè)試電流不小于100A。若GIS有進(jìn)出線套管，可利用進(jìn)出線套管注入測(cè)量電流進(jìn)行測(cè)量。
若GIS接地開(kāi)關(guān)導(dǎo)電桿與外殼絕緣，引到金屬外殼的外部以后再接地，測(cè)量時(shí)可將活動(dòng)接地片打開(kāi)，利用回路上的兩組接地開(kāi)關(guān)導(dǎo)電桿關(guān)合到測(cè)量回路上進(jìn)行測(cè)量；若接地開(kāi)關(guān)導(dǎo)電桿與外殼不能絕緣分隔時(shí)，可先測(cè)量導(dǎo)體與外殼的并聯(lián)電阻R0和外殼的直流電阻R1，然后按下式換算回路電阻R。
R＝R0R1÷（R1－R0）
基于直流壓降法時(shí)，可采用直流電源、分流器和毫伏表測(cè)量回路電阻，也可采用回路電阻測(cè)試儀來(lái)進(jìn)行測(cè)量。二者基本原理一致，測(cè)量時(shí)應(yīng)注意接線方式帶來(lái)的誤差，電壓測(cè)量線應(yīng)在電流輸出線的內(nèi)側(cè)，且電壓測(cè)量線應(yīng)接在被測(cè)回路正確的位置，否則將產(chǎn)生較大的測(cè)量誤差，接線方式如圖1所示。

圖1：主回路電阻測(cè)量的接線圖
在GIS母線較長(zhǎng)間隔較多，并且有多路進(jìn)出線的情況下，應(yīng)盡可能分段測(cè)量，以便有效地找到缺陷的部位?，F(xiàn)場(chǎng)測(cè)量的數(shù)據(jù)應(yīng)與出廠試驗(yàn)數(shù)據(jù)比較，當(dāng)被測(cè)回路各相長(zhǎng)度相同時(shí)，測(cè)得的各相數(shù)據(jù)應(yīng)相同或接近。
例如，測(cè)量圖2所示GIS的主同路電阻時(shí)，可以首先測(cè)量A1——A2之間的電阻，若三相測(cè)量數(shù)據(jù)與出廠數(shù)據(jù)差別較大或三相數(shù)據(jù)差別較大，應(yīng)對(duì)測(cè)量回路分段，以找到有安裝缺陷的部件。如從B、C兩點(diǎn)通電測(cè)量，可以判斷斷路器QF1的接觸情況；從D、F兩點(diǎn)通電測(cè)量回路電阻，可以準(zhǔn)確判斷斷路器QF2的接觸情況。

圖2：某GIS的主接線

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